Bowman Serie M

BOWMAN SERIE M
Strumento a raggi X con ottica a policapillare per analisi di rivestimenti sottili a µ-spot, fino a 15 µm

Descrizione prodotto

BOWMAN è lieta di introdurre la seconda generazione di strumenti a raggi X con ottica a policapillare. Grazie al µ-spot da 15 µm di FWHM, ad un alto flusso di raggi X primari e ad un rivelatore SDD di ampia area di ultimissima generazione, lo strumento serie M è in grado di raggiungere performance mai raggiunte in pochi secondi di analisi.

Progettato specificamente per analisi ENIG, ENEPIG, e NiP con calcolo della percentuale di P, la serie M soddisfa le richieste del mercato dei PCB, leadframes, fili sottili e, più in generale, in quei campi applicativi dove è richiesto l’analisi di piccole superfici.

Pur essendo uno strumento altamente evoluto, la serie M mantiene tutte le caratteristiche di semplicità di service che caratterizzano gli strumenti della Bowman. La semplicità di accesso alla testa di analisi riduce i tempi di assistenza. L’ingombro ridotto, un solo cavo di comunicazione USB tra PC e strumento e i controlli sul pannello frontale, rendono la serie M di facile utilizzo.

PERFORMANCE


Caratteristiche

Ottica a policapillare che garantisce sul campione un flusso primario di raggi X fino a 5 volte superiore rispetto ad un classico strumento a collimatori

Doppia telecamera con single click da 2x a 250x :

Vantaggi del sistema a policapillare
  • Ottica a policapillare che garantisce sul campione un flusso primario di raggi X fino a 5 volte superiore rispetto ad un classico strumento a collimatori
  • l’ottica policapillare garantisce le migliori performance con tempi di analisi brevi su µ-spot
Analisi di film sottili
  • Spot del fascio primario da 15µm di FWHM con un incredibile accuratezza e precisione
  • Tempi di analisi brevi per ottenere una deviazione standard < 1% relative per spessori inferiori a 0.025 µm
  • Fornito con un detector a grande area di rilevazione SDD
Mappa 3D con scansione continua

Disponibile in due versioni di tavolo XY Motorizzato

Standard Extra corsa

SPECIFICHE STRUMENTALI

Tubo a raggi X50 W, anodo in Mo con ottica policapillare Flex-Beam FWHM@15

Rivelatore: Silicon drifted detector SDD con risoluzione di 135eV

Numero di strati e elementi analizzabili: 5 strati (4 strati + base) and fino a 10 elementi in ogni singolo strato. Analisi elementare fino a 25 elementi simultaneamente

Filtri: 4 filtri primari

Distanza focale: Fissa a 1.27 mm </em

Catena di formazione segnale: Analizzatore digitale multicanale a 4096 canali con selezione del tempo di formazione segnale, correzione tempo morto e picchi di escape

Computer: Intel, CORE i5 3470 Processor (3.2GHz), Memoria 8GB DDR3, Microsoft Windows 10 Prof, 64 bit o equivalente

Videocamera: 1/4″ CMOS-1280×720 VGA resolution, 250X con doppia telecamera or 45X singola telecamera con monitor 15″

Alimentazione: 150W, 100~240 volts, 47Hz – 63Hz

Condizioni di lavoro: da 10°C a 40°C fino al 98% di umidità non condensante

Peso: 70 kg

Base XY motorizzata:Dimensioni base: 432 x 406 mm | Corsa: 165 x 165 mm ad alta precisione

Dimensioni interne: Altezza: 140 mm, Larghezza: 310 mm, Profondità: 335 mm

Dimensioni esterne: Altezza: 450 mm, Larghezza: 450 mm, Profondità: 600 mm

SCARICA LA BROCHURE