Panoramica tecnologia XRF

Panoramica sulla Tecnologia XRF
Diverse configurazioni per soddisfare tutte le richieste

SERIE G Analisi di oro e metalli preziosi nell’industria della moda e gioielli

SERIE B Rivestimenti anticorrosione su viti, dadi, etc..

SERIE P Rivestimenti in elettronica, semiconduttori, moda, gioielleria, etc..

SERIE O Schede elettroniche, fili sottili, wafers, etc..

SERIE M Schede elettroniche, fili sottili, wafers con spot di analisi più piccolo

SERIE L Dove è richiesta l’analisi di grossi campioni

SERIE W Wafers, spot micrometrici

TRE DIVERSE OPZIONI DELLA TAVOLA XY:

BASE STANDARD FISSA
BASE PROGRAMMABILE ESTESA
BASE MOTORIZZATA/PROGRAMMABILE EXTRA CORSA

Descrizione prodotto

I BOWMAN Xray sono strumenti da banco di precisione per misurare lo spessore di rivestimenti su un substrato. Con la nostra tecnologia di rilevamento allo stato dell’arte e un software semplice da utilizzare ma potente, si possono eseguire anche analisi composizionali. Lo strumento può misurare fino a cinque strati di rivestimento contemporaneamente, due dei quali possono essere leghe.

Gli strumenti utilizzano un tubo a raggi X a micro-spot, come sorgente di eccitazione, rivelatori a stato solido con stabilizzazione della temperatura e una catena elettronica per contare i fotoni secondari. Il software BOWMAN Xralizer utilizza algoritmi software unici che identificano e misurano lo spessore dei materiali a partire dai fotoni rilevati.

Una videocamera con ingrandimento fino a 500x, allineata con l’asse ottica del fascio primario, aiuta l’operatore a selezionare l’area di analisi. Il campione è messo a fuoco tramite un focus laser e, grazie alle distanza focali variabili, si possono eseguire analisi anche di prodotti fortemente irregolari.

IL BOWMAN XRAY E’ UNO STRUMENTO AD ALTE PERFORMANCE PER

  • Analisi di spessori galvanici
  • Analisi elementari
  • Analisi di soluzioni galvaniche

MADE IN U.S.A.