Bowman Serie O

BOWMAN SERIE O
Strumento a raggi X con ottica a policapillare per analisi di rivestimenti sottili a µ-spot

Descrizione prodotto

BOWMAN è lieta di introdurre la seconda generazione di strumenti a raggi X con ottica a policapillare. Grazie al µ-spot, ad un alto flusso di raggi X primari e ad un rivelatore SDD di ampia area di ultimissima generazione, lo strumento serie O è in grado di raggiungere performance mai raggiunte in pochi secondi di analisi.

  • Analisi di piccole aree con una precisione e velocità mai raggiunta
  • Flusso primario di raggi X fino a 5 volte superiore rispetto a strumenti con collimatori classici
  • Equipaggiato con rivelatore SDD di ampia area di rilevazione di ultimissima generazione
  • Specifico per analisi ENIG, ENEPIG, e NiP con calcolo della percentuale di P

Caratteristiche

Stai lavorando con componenti piccoli, film e necessiti di analisi di spessori? Necessiti di velocità, accuratezza e precisione?

Vantaggi del sistema a policapillare
  • Ottica a policapillare che garantisce sul campione un flusso primario di raggi X fino a 5 volte superiore rispetto ad un classico strumento a collimatori
  • Ciò fornisce una miglior precisione con tempi di analisi più corti con µ-spot
Analisi di film sottili
  • Analisi di piccole aree con una precisione e velocità mai raggiunta
  • Flusso primario di raggi X fino a 5 volte superiore rispetto a strumenti con collimatori classici
  • Equipaggiato con rivelatore SDD di ampia area di rilevazione di ultimissima generazione
  • Specifico per analisi ENIG, ENEPIG, e NiP con calcolo della percentuale di P

PERFORMANCE

µm Au µm Pd µmNi µm NiP % P
Media 0.0427 0.08 3.72 Media 10.22 10.17
Std Dev 0.00045 0.0009 0.00985 Std Dev 0.11 0.29
Range 0.0015 0.003 0.0395 Range 0.38 0.99
% Std Dev 1.053% 1.121% 0.265% % Std Dev 1.067% 2.85%

Disponibile in tre versioni di tavolo XY Motorizzato

Standard
Extended
Extra Corsa

 

SPECIFICHE STRUMENTALI

Tubo a raggi X50 W, anodo in Mo con ottica policapillare FWHM@80um

Rivelatore: Silicon drifted detector SDD con risoluzione di 135eV

Numero di strati e elementi analizzabili: 5 strati (4 strati + base) and fino a 10 elementi in ogni singolo strato. Analisi elementare fino a 25 elementi simultaneamente

Filtri: 2 filtri primari

Distanza focale: Fissa a 2.54 mm

Catena di formazione segnale: Analizzatore digitale multicanale a 4096 canali con selezione del tempo di formazione segnale, correzione tempo morto e picchi di escape

Computer: Intel, CORE i5 3470 Processor (3.2GHz), Memoria 8GB DDR3, Microsoft Windows 10 Prof, 64 bit o equivalente

Videocamera: 1/4″ CMOS-1280×720 VGA resolution, 250X con doppia telecamera or 45X singola telecamera con monitor 15″

Alimentazione: 150W, 100~240 volts, 47Hz – 63Hz

Condizioni di lavoro: da 10°C a 40°C fino al 98% di umidità non condensante

Peso: 53kg

Base XY motorizzata:Dimensioni base: 381 x 330 mm | Corsa: 152 x 127 mm

Dimensioni interne: Altezza: 140 mm, Larghezza: 310 mm, Profondità: 335 mm

Dimensioni esterne: Altezza: 450 mm, Larghezza: 450 mm, Profondità: 600 mm

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